1. 본 장비는 sub-나노 단위로 물질을 분석하고 정량 측정을 할 수 있는 장비로서 3차원으로 물질의 구조와 화학적 정보를 제공한다.
2. 탐침형 시료의 원자를 이온 형태로 추출하여 원소의 질량으로부터 ppm 수준의 원소정량분석 및 원자수준에서 원자가 존재하는 위치를 결정하여 3차원적으로 이미지를 구축할 수 있는 장비이다.
3. Atom probe를 통해 이종 또는 극미량 도핑 샘플의 natural 이미지를 원자수준에서 직접 관찰함으로써지금까지 볼 수 없었던 불순물 수준의 첨가 원자의 3차원 구조 및 공간분포 등을 사실적으로 규명할 수 있다.
4. 현재 KIST가 보유하고 있는 극미세/극미량 장비와 병행하여 활용한다면 재료분야 뿐만 아니라 최근 촉매연구 에너지/환경 연구 등의 극미량 성분을 제어하고 위치 및 역할을 규명해야 하는 연구분야를 리딩할 수 있는 기회를 선점하게 될 것이다.