특징
- AES XPS 그리고 Static SIMS도 깊이방향의 원소분포분석이 가능하지만 Dynamic SIMS는 보다 많은 이온으로 깊이방향 분석을 수행하기 때문에 분석시간이 상대적으로 짧아 단층 깊이에 대한 정보를 신속히 얻을 수 있는 장점이 있다. 또한 Static SIMS와 달리 분석하고자 하는 이온을 연속적으로 검출하기 때문에 수 ppm의 검출한계를 가지는 장점이 있다. 또 ESA(Electrostatic Analyzer)와 Magnetic Sector가 이중으로 달려있어 높은 질량 분해능을 실현할 수 있다.