형광시료를 광학적으로 section하여 blurring이 없는 선명한 광학적 절편상을 얻는 것이다. 따라서 시료에 일체 손상이 없이 그 형태 및 내부구조를 시각화 할 수 있으며,전용의 투과광 Detector에 의해 고해상도의 투과광상과 함께 염색체, 세포등 시료의 3차원 구조 및 미세 형태 해석에 유용하다. 고감도의 detector system이 장착되어 미약한 형광신호의 검출 및 결과도출이 가능하다. 이렇게 취합한 결과는 학술연구 발표용 및 교육을 위한 이미지 데이터 베이스로 구축 할 수 있다